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TSCについて

計測分析技術交流広場の目的

  1. 計測・分析技術に関する最先端の技術を広く共有し、研究開発及び生産現場で応用することにより半導体製品の品質向上に寄与する。
  2. 分析技術のニーズを発掘するとともに、シーズとしての計測・分析技術の最新情報の共有化により、高度で実用的な研究開発をサポートする。
  3. 先端技術を討議するオープンな場を作り産学独の連携を図る。

計測分析技術交流広場は、日頃、研究者や技術者の方が現場で困っている課題を一緒に討議し、解決を図っていくためのものです。

情報交換や知恵を出し合い、技術の高度化や実用化を図ろうと考えています。

こうした目的にご賛同頂ける方のために、“つくば半導体コンソーシアム”ではWEB上で討議ができる“計測分析技術掲示板”を作りました。

掲示板をはじめ、技術マップなども充実させていきます。このサイトの充実にご協力頂ける方を募っています。 そしてこのサイトが多くの方にご活用頂けることを願っています。

計測分析技術交流広場編集委員(50音順)

浅沼 周太郎
国立研究開発法人 産業技術総合研究所
井上 靖朗
国立研究開発法人 産業技術総合研究所
清水 三聡
国立研究開発法人 産業技術総合研究所
嶋崎 綾子
東芝ナノアナリシス株式会社
多田 哲也
国立研究開発法人 産業技術総合研究所
中村 誠
株式会社 富士通研究所
西澤 正泰
レーザーテック株式会社
橋本 哲
JFEテクノリサーチ株式会社
畑 良文
パナソニック・タワージャズセミコンダクター株式会社
原田 信介
国立研究開発法人 産業技術総合研究所
巻渕 陽一
富士電機株式会社
宮武 久和
東海大学
渡辺 雄一
オン・セミコンダクター